顾健德，中国科学院上海药物研究所研究员。通过系统的计算研究，提出了低能电子引起DNA链断裂的机理为DNA碱基接受电子形成自由基负离子，继而造成相邻糖上的碳氧键断裂。该研究在国际重要学术期刊上发表学术研究论文60余篇。其中包括PNAS， Angew. Chem., JACS, Nucl. Acid. Res. Chem. Euro. J, 等10余篇。并应邀在Chem. Rev.发表研究综述。